簡要描述:美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀精確非均勻樣品分析—包括納 米顆?!獨w功于其與顆粒密度無關的分析。自動/無人操作。所有組件都在一個簡易單一窗口界面控制和操作。
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品牌 | 其他品牌 | 測量時間 | 1-10min秒 |
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分辨率 | 大于0.1nm微米 | 測量范圍 | 5nm-100μm微米 |
重現(xiàn)性 | <1% | 分散方式 | 濕法分散 |
價格區(qū)間 | 100萬-150萬 | 儀器種類 | 動態(tài)光散射 |
產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油 |
美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀
新的 CHDF 3000 提供:
1】高分辨率粒度分布(PSD)測量 的新的技術,包括顆粒檢測高靈 敏度、動態(tài)范圍和納米顆粒優(yōu)化分析。
2】粒子分餾的真的 PSD 數(shù)據(jù)。無需對粒徑分布的形狀進行假設。
3】精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關的分析。
4】自動/無人操作。所有組件都在一個簡易單一窗口界面控制和操作。
美國MAS
應用科學公司的新 CHDF3000 系統(tǒng),在高分辨率粒度分布(PSD)分析方面有*新的進展。
CHDF3000 使用毛細管流體動力分餾(CHDF)技術按大小分離顆粒。架構于光散射儀器、主
要提供平均粒徑數(shù)據(jù)—任何平均粒徑都可由無限多的 PSD 產(chǎn)生(見下文)。相反,
CHDF3000在 5 納米到 3 微米范圍內(nèi)提供完整、真實、詳細的 PSD 數(shù)據(jù)。接下來將介紹
CHDF3000 的一些優(yōu)勢亮點。
美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀
優(yōu)勢:
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